精密金属部分の処理は測定および比較測定にゲージの読む価値が直接測定された次元の価値を表すかどうかによって分けることができる。
絶対測定:読む価値はバーニヤ カリパスによって直接測定のような測定されたサイズのサイズを、示す。
比較測定:読書は測定されたサイズと標準的な量間の偏差を表す。シャフトの直径がコンパレーターと測定されれば、器械のゼロ位置はゲージ ブロックと最初に調節されるべきである。測定値は側面シャフトの直径とゲージ ブロック、すなわち、測定値のサイズの違いである。一般的に、測定の正確さはより高く、測定はより面倒である。
精密ハードウェア部品の処理は接触の測定および無接触測定に測定された表面が計器の測定の頭部と接触してあるかどうかによって分けることができる。
接触の測定:測定の頭部は接触表面と接触してあり、精密な測定力がある。例えば、マイクロメートルの測定の部品。
非接触の測定:測定の頭部は測定された部分の表面と接触してないし、無接触測定は測定の結果の測定力の影響を避けることができる。投射方法および光波の干渉方法のような。
精密ハードウェア部品の処理は直接測定および間接測定に測定された変数が直接またはない測定されないかどうかによって分けることができる。
直接測定:測定された次元を得る直接手段測定された変数。例えば、カリパスおよびコンパレーターとの測定。測定:測定された幾何学的な変数は間接的に測定される。
結論として、それは直接測定がより直観的であり、間接測定がより扱いにくいこと明らかである。通常測定された次元か直接測定が正確さの条件を満たすことができないとき、間接測定は使用されなければならない。
